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High frequency measurement and noise in electronic circuits / Douglas C. Smith
Tipo de material:![Texto](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0-442-00636-5
- TK 7867.5 S55.1993
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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Libros | Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Acervo | Acervo General | TK 7867.5 S55.1993 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | 198587 |
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