Statistical analysis of reliability and life-testing models : theory and methods / Lee J. Bain, Max Engelhardt

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TextoSeries Statistics, textbooks and monographs ; 115Detalles de publicación: New York : M. Dekker, 1991Edición: 2nd edDescripción: vii, 496 p. : il., tablas ; 23 cmISBN:

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Tipo de ítem	Biblioteca actual	Colección	Signatura topográfica	Estado	Fecha de vencimiento	Código de barras
Libros	Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Acervo	Acervo General	TS 173 B34.1991 (Navegar estantería(Abre debajo))	Disponible		205452

Incluye índice.

Bibliografía: p. 479-491.