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Accelerated testing : statistical models, test plans and data analyses / Wayne Nelson.

Por: Tipo de material: TextoTextoSeries Wiley series in probability and mathematical statistics)Detalles de publicación: New York : Wiley, 1990Descripción: xiv, 601 p. : il., gráficas ; 25 cmISBN:
  • 0471522775
Tema(s): Clasificación CDD:
  • 519.5 20
Clasificación LoC:
  • QA 276 N45.1990
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Tipo de ítem Biblioteca actual Colección Signatura topográfica Copia número Estado Fecha de vencimiento Código de barras
Libros Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Acervo Acervo General QA 276 N45.1990 (Navegar estantería(Abre debajo)) ej. 1 Disponible 275619

Incluye referencias bibliográficas (p. 561-577) e índice.