Vista normal
Vista MARC
Microstructural characterization of materials / David Brandon, Wayne D. Kaplan.
Tipo de material:
TextoDetalles de publicación: Chichester : John Wiley, 2008.Edición: 2nd edDescripción: xiv, 536 p. : il. ; 25 cmISBN: - 9780470027844 (hbk.)
- 0470027843 (hbk.)
- 0470027851 (pbk.)
- 9780470027851 (pbk.)
- TA 417.23 B73.2008
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Libros | Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Acervo | Acervo General | TA 417.23 B73.2008 (Navegar estantería(Abre debajo)) | ej. 1 | Disponible | UIA033850 |
Incluye referencias bibliográficas e índice.
