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Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications / Greg Haugstad.
Tipo de material:
TextoEditor: Hoboken, New Jersey : John Wiley & Sons, 2012Fecha de copyright: ©2012Descripción: xxii, 464 páginas : ilustraciones ; 24 cmTipo de contenido: - texto
- sin medio
- volumen
- 9780470638828
- Understanding basic modes and advanced applications [Parte del título]
- QH 212.A78 H38.2012
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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| Libros | Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Acervo | Acervo General | QH 212.A78 H38.2012 (Navegar estantería(Abre debajo)) | ej. 1 | Disponible | UIA114024 | ||
| Libros | Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Acervo | Acervo General | QH 212.A78 H38.2012 (Navegar estantería(Abre debajo)) | ej. 2 | Disponible | UIA138571 |
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Incluye referencias bibliográficas e índice.
