Vista normal
Vista MARC
Metrología y sus aplicaciones Adolfo Escamilla Esquivel.
Tipo de material:![Texto](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- texto
- sin mediación
- computadora
- volumen
- disco óptico
- 9786077441250
- 9708172332
- T 50 E83.2015
Contenidos:
Conceptos de metrología -- Instrumentos de medición dimensional -- Tolerancia y mediciones -- Incertidumbres --- Bloques patrón -- Metrología eléctrica.
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros | Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Acervo | Acervo General | T 50 E83.2015 (Navegar estantería(Abre debajo)) | ej. 1 | Disponible | UIA143675 | ||
Recurso electrónico en disco | Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Hemeroteca | Acervo General | T 50 E83.2015 (Navegar estantería(Abre debajo)) | disco óptico, ej. 1 | Disponible | UIA143676 |
Navegando Biblioteca Francisco Xavier Clavigero estanterías, Ubicación en estantería: Acervo, Colección: Acervo General Cerrar el navegador de estanterías (Oculta el navegador de estanterías)
No hay imagen de cubierta disponible | No hay imagen de cubierta disponible | |||||||
T 495.1883.B1 E76 La exposición nacional de Venezuela en 1883 / | T 495.1883.B1 E76 La exposición nacional de Venezuela en 1883 / | T 50 D53.1997 Measurement uncertainty methods and applications / | T 50 E83.2015 Metrología y sus aplicaciones | T 50 F54.1991 Theory and design for mechanical measurements / | T 50 G66.1998 Metrología / | T 50 G66.1998 Metrología / |
Incluye referencias bibliográficas.
Conceptos de metrología -- Instrumentos de medición dimensional -- Tolerancia y mediciones -- Incertidumbres --- Bloques patrón -- Metrología eléctrica.
Solicitar el disco en el mostrador de Hemeroteca.