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Metrología y sus aplicaciones Adolfo Escamilla Esquivel.
Tipo de material:
TextoEditor: México : Patria, 2015Edición: Segunda ediciónDescripción: xiv, 262 páginas ; ilustraciones ; 25 cm + 1 disco óptico láser (4 3/4 plg)Tipo de contenido: - texto
- sin mediación
- computadora
- volumen
- disco óptico
- 9786077441250
- 9708172332
- T 50 E83.2015
Contenidos:
Conceptos de metrología -- Instrumentos de medición dimensional -- Tolerancia y mediciones -- Incertidumbres --- Bloques patrón -- Metrología eléctrica.
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Libros | Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Acervo | Acervo General | T 50 E83.2015 (Navegar estantería(Abre debajo)) | ej. 1 | Disponible | UIA143675 | ||
| Recurso electrónico en disco | Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Hemeroteca | Acervo General | T 50 E83.2015 (Navegar estantería(Abre debajo)) | disco óptico, ej. 1 | Disponible | UIA143676 |
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Conceptos de metrología -- Instrumentos de medición dimensional -- Tolerancia y mediciones -- Incertidumbres --- Bloques patrón -- Metrología eléctrica.
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