TY  - BOOK
AU  - Haugstad,Greg
TI  - Atomic force microscopy: understanding basic modes and advanced applications 
SN  - 9780470638828
AV  - QH 212.A78 H38.2012
PY  - 2012///,
CY  - Hoboken, New Jersey
PB  - John Wiley & Sons
KW  - Atomic force microscopy
KW  - Microscopía de fuerza atómica
N1  - Incluye referencias bibliográficas e índice
ER  -