TY  - BOOK
AU  - Pecharsky,Vitalij K.
AU  - Zavalij,Peter Y.
TI  - Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials
SN  - 9780387095783
AV  - QC 482.D5 P43.2016
PY  - 2016///
CY  - New York
PB  - Springer
KW  - Powders
KW  - Optical properties
KW  - Measurement
KW  - Polvos
KW  - Propiedades ópticas
KW  - Medición
KW  - X-rays
KW  - Diffraction
KW  - Rayos X
KW  - Difracción
KW  - X-ray crystallography
KW  - Cristalografía por rayos X
N1  - Incluye referencias bibliográficas
ER  -