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Statistical analysis of reliability and life-testing models : theory and methods / Lee J. Bain, Max Engelhardt
Tipo de material:![Texto](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
- 0824785061
- TS 173 B34.1991
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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Libros | Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Acervo | Acervo General | TS 173 B34.1991 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | 205452 |
Incluye índice.
Bibliografía: p. 479-491.