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Characterization of epitaxial semiconductor films / edited by henry Kressel
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Series Methods and phenomena, their applications in science and technology ; 2Detalles de publicación: Amsterdam ; New York : Elsevier Scientific, 1976Descripción: xii, 216 p. : il. ; 25 cmTema(s): Clasificación LoC:- QC 176.83 C48
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Estado | Notas | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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| Libros | Biblioteca Francisco Xavier Clavigero Acervo | Acervo General | QC 176.83 C48 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Disponible | 124620 |
"Published as a special issue of Thin solid films, vol. 31, issues 1 and 2."
Incluye bibliografía.
