000 00912nam-a2200301-a-4500
001 000142746
003 MX-MxUI
005 20240219115455.0
008 930219s1979 mx r 000 0 spa d
035 _aTE008533
040 _aUIASF
_bspa
_cUIASF
_dUIASF
084 _aX3.I79
_b28
100 1 _aDávila Sánchez, José Ricardo
245 1 0 _aSistema de control de calidad y bases para el control de inventarios.
260 _c1979.
300 _a177 h. ;
_c27 cm.
502 _aTesis. Licenciado en Ingeniería Industrial.
650 4 _aControl de calidad
650 4 _aInventarios
700 1 _aGómez-Navas Martínez, Leonardo
710 2 _aUniversidad Iberoamericana.
_bDepartamento de Ingeniería Mecánica y Eléctrica.
_kTesis.
902 _aIngeniería Industrial.
_bLicenciatura.
905 _a02
942 1 _cNEWBAH2
999 _c140505
_d140505
980 _8126340
_g ADMIN1