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| 010 | _a89024853 | ||
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| 040 |
_aDLC _bspa _cUAISF _dUIASF |
||
| 050 | 0 |
_aQA 276 _bN45.1990 |
|
| 082 | 0 | 0 |
_a519.5 _220 |
| 100 |
_aNelson, Wayne _d1936- |
||
| 245 | 1 | 0 |
_aAccelerated testing : _bstatistical models, test plans and data analyses / _cWayne Nelson. |
| 260 |
_aNew York : _bWiley, _c1990 |
||
| 300 |
_axiv, 601 p. : _bil., gráficas ; _c25 cm. |
||
| 440 | 0 | _aWiley series in probability and mathematical statistics) | |
| 504 | _aIncluye referencias bibliográficas (p. 561-577) e índice. | ||
| 650 | 4 | _aAnálisis de datos de tiempo de falla | |
| 650 | 4 |
_aConfiabilidad (Ingeniería) _xMétodos estadísticos. |
|
| 650 | 4 |
_aPrueba acelerada de duración - _xMétodos estadísticos. |
|
| 942 | 1 | _cNEWBFXC1 | |
| 950 | 0 | _xStatistical methods. | |
| 950 | 0 | _xStatistical methods. | |
| 905 | _a01 | ||
| 999 |
_c239809 _d239809 |
||
| 980 |
_851 _gRonald RUIZ |
||