000 | 01319nam a2200385 i 4500 | ||
---|---|---|---|
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003 | OCoLC | ||
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035 | _a404849 | ||
040 |
_aUVMCP _bspa _erda _cUVMCP _dUIASF |
||
050 | 4 |
_aT 50 _bE83.2015 |
|
100 | 1 |
_aEscamilla Esquivel, Adolfo _eautor |
|
245 | 1 | 0 |
_aMetrología y sus aplicaciones _cAdolfo Escamilla Esquivel. |
250 | _aSegunda edición. | ||
264 | 1 |
_aMéxico : _bPatria, _c2015. |
|
300 |
_axiv, 262 páginas ; _bilustraciones ; _c25 cm + _e1 disco óptico láser (4 3/4 plg) |
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336 |
_atexto _btxt _2rdacontent |
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337 |
_asin mediación _bn _2rdamedia |
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337 |
_acomputadora _bc _2rdamedia |
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338 |
_avolumen _bnc _2rdacarrier |
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338 |
_adisco óptico _bcd _2rdacarrier |
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504 | _aIncluye referencias bibliográficas. | ||
505 | 0 |
_tConceptos de metrología -- _tInstrumentos de medición dimensional -- _tTolerancia y mediciones -- _tIncertidumbres --- _tBloques patrón -- _tMetrología eléctrica. |
|
544 | 0 | _aSolicitar el disco en el mostrador de Hemeroteca. | |
650 | 4 | _aMetrología | |
650 | 4 | _aMedición | |
905 | _a01 | ||
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||
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_851 _gRonald RUIZ |